CdZnTe晶片显微光致发光谱中的等效温度分布研究
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TN215

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DISTRIBUTION OF EFFECTIVE TEMPERATURE IN MICRO-PHOTOLUMINESCENCE MAPPING ON CdZnTe WAFER
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    提出并实现了用微米级空间分辨率的显微光致发光(μ-PL)平面扫描谱对CdZnTe(CZT)晶片的表面亚微米层特性研究。在含缺陷区域进行微米尺度和在大面积范围内进行毫米尺度的逐点PL测量。对测得每一点的PL谱进行了拟合。拟合参数中等效温度Tc的统计分布给出两个分布中心,表明存在有两种机制的发光过程。同时统计结果给出发光各点的不均匀性。等效温度的平面分布图直观地给出了各温度的平面位置,样品经溴 抛光后重复类似的测量,结果表明等效湿度的统计均匀性大为改善。抛光后的不同的缺陷点表现出不同的发光特性,意味着各自起源的不同。大面积PL扫描的统计结果和平面分布给出样品特性的整体评价。

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引用本文

李志锋 方维政 等. CdZnTe晶片显微光致发光谱中的等效温度分布研究[J].红外与毫米波学报,2001,20(3):233~237]. LI Zhi Feng ) LU Wei ) CAI Wei Ying ) FANG Wei Zheng ) YANG Jian Rong ) HE Li ) SHEN Xue Chu ). DISTRIBUTION OF EFFECTIVE TEMPERATURE IN MICRO-PHOTOLUMINESCENCE MAPPING ON CdZnTe WAFER[J]. J. Infrared Millim. Waves,2001,20(3):233~237.]

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  • 最后修改日期:2000-07-26
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